El SEM cuenta con una columna de haz de iones enfocados de xenón o plasma focused ion beam (PFIB) para la obtención de imágenes y caracterización 3D de forma más rápida y precisa. “Se combinan estas tecnologías con sus detectores de electrones retrodispersados (BSE) y detectores de rayos X de energía dispersiva (EDS) para obtener información de composición elemental; el detector de difracción de electrones por retrodispersión (EBSD) y de transmisión (STEM), con el fin de obtener datos de cristalográficos y microestructurales”, precisa Sebastián Mendoza, ingeniero de INNVESTIGA – Centro de Desarrollo Tecnológico.

Dadas las características de este equipo para realizar análisis más precisos y completos de distintos materiales beneficiará a los investigadores de manera directa, ya que sus estudios lograrán más exactitud y mayor impacto. Mendoza también indica que “la industria tendrá acceso a técnicas de caracterización más detalladas, permitiendo así, soluciones a necesidades técnicas en materiales y acelerando el desarrollo de productos y el enriquecimiento del control de calidad de los mismos”.

El microscopio SEM Helios 5 Dual Beam se aplica en una amplia gama de líneas de investigación que involucran la observación, caracterización y modificación de materiales a escala micro y nanométrica, el estudio de estructura, composición y propiedades de los materiales; ciencias de la Tierra y el medio ambiente, análisis de estructura y composición de materiales geológicos; física y ciencias de la ingeniería, estudio de propiedades y procesos físicos en materiales y sistemas, entre otros.